Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (συγγραφέας.)
Άλλοι συγγραφείς: Agrawal, Vishwani D., 1943- (συγγραφέας.)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston : Kluwer Academic, c2000.
Σειρά:Frontiers in electronic testing ; 17
Θέματα:
LEADER 01226cam a22002534a 4500
001 12158086
003 GR-PaULI
005 20240528110603.0
008 000829s2000 maua b 001 0 eng
010 |a  00046212  
020 |a 0792379918  
040 |a DLC  |c DLC  |d DLC  |b gre  |e AACR2 
082 0 4 |a 621.395  |2 23 
100 1 |a Bushnell, Michael L.  |q (Michael Lee),  |d 1950-  |9 203772  |e συγγραφέας. 
245 1 0 |a Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /  |c Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. 
260 |a Boston :  |b Kluwer Academic,  |c c2000. 
300 |a xviii, 690 σ. :  |b εικ. ;  |c 26 εκ. 
490 1 |a Frontiers in electronic testing ;  |v 17 
504 |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήρια. 
650 4 |a Ολοκληρωμένα κυκλώματα  |x Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας.  |9 35013 
700 1 |a Agrawal, Vishwani D.,  |d 1943-  |9 203771  |e συγγραφέας. 
942 |2 ddc  |c BK 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_BUS  |7 0  |9 142230  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 365942  |l 0  |o 621.395 BUS  |p 025000310742  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15 
999 |c 93034  |d 93034