Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
Κύριος συγγραφέας: | Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (συγγραφέας.) |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Agrawal, Vishwani D., 1943- (συγγραφέας.) |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston :
Kluwer Academic,
c2000.
|
Σειρά: | Frontiers in electronic testing ;
17 |
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
IDDQ testing of VLSI circuits /
Έκδοση: (1997) -
The design and analysis of VLSI circuits /
ανά: Glasser, Lance A.
Έκδοση: (1985) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση: (2006) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση: (2006) -
The bounding approach to VLSI circuit simulation /
ανά: Zukowski, Charles A.
Έκδοση: (1986)