Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

• Κύριος συγγραφέας: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (συγγραφέας.)
• Άλλοι συγγραφείς: Agrawal, Vishwani D., 1943- (συγγραφέας.)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston : Kluwer Academic, c2000.
• Σειρά: Frontiers in electronic testing ; 17
• Θέματα: Ολοκληρωμένα κυκλώματα > Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας.