Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeli...
Κύριοι συγγραφείς: | Cheng, Yi-Kan (Συγγραφέας), Tsai, Ching-Han (Συγγραφέας), Teng, Chin-Chi (Συγγραφέας), Kang, Sung-Mo Steve (Συγγραφέας) |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston, MA :
Springer US,
2002.
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Analog Design for CMOS VLSI Systems
ανά: Maloberti, Franco
Έκδοση: (2001) -
Mixed Signal VLSI Wireless Design Circuits and Systems /
ανά: Farag, Emad N., κ.ά.
Έκδοση: (2002) -
Clocking in Modern VLSI Systems
Έκδοση: (2009) -
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition /
Έκδοση: (2007) -
Mosfet Modeling & BSIM3 User’s Guide
ανά: Cheng, Yuhua, κ.ά.
Έκδοση: (2002)