Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2002). Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Springer US.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Bushnell, Michael L., και Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Boston, MA: Springer US, 2002.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Bushnell, Michael L., και Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Springer US, 2002.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.