Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Springer US.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Nicolici, Nicola, και Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston, MA: Springer US, 2003.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Nicolici, Nicola, και Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Springer US, 2003.