Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Egerton, R. F. (2005). Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer US : Imprint: Springer.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Egerton, Ray F. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Boston, MA: Springer US : Imprint: Springer, 2005.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Egerton, Ray F. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer US : Imprint: Springer, 2005.