Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting

Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies is a new type of edited volume in the Frontiers in Electronic Testing book series devoted to recent advances in electronic circuits testing. The book is a comprehensive elaboration on important topics which capture major research and devel...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Gizopoulos, Dimitris (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA : Springer US, 2006.
Σειρά:Frontiers in Electronic Testing, 27
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Πίνακας περιεχομένων:
  • Defect-Orinted Testing
  • Failure Mechanisms and Testing in Nanometer Technologies
  • Silicon Debug
  • Delay Testing
  • High-Speed Digital Test Interfaces
  • DFT_Oriented,Low-Cost Testers
  • Embedded Cores and System-on-Chip Testing
  • Embedded MemoryTesting
  • Mixed-Signal Testing and DfT
  • RF Testing
  • Loaded Board Testing.