Foster, A., & Hofer, W. (2006). Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. Springer New York.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Foster, Adam, και Werner Hofer. Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. New York, NY: Springer New York, 2006.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Foster, Adam, και Werner Hofer. Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. Springer New York, 2006.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.