Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

SpringerLink (Online service), Sachdev, M., & Gyvez, J. P. d. (2007). Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits: 2nd Edition. Springer US.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

SpringerLink (Online service), Manoj Sachdev, και José Pineda de Gyvez. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits: 2nd Edition. Boston, MA: Springer US, 2007.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

SpringerLink (Online service), et al. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits: 2nd Edition. Springer US, 2007.