Tehranipoor, M., & Ahmed, N. (2008). Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests. Springer US.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Tehranipoor, Mohammad, και Nisar Ahmed. Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests. Boston, MA: Springer US, 2008.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Tehranipoor, Mohammad, και Nisar Ahmed. Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests. Springer US, 2008.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.