Electron Backscatter Diffraction in Materials Science

• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
• Άλλοι συγγραφείς: Schwartz, Adam J. (Επιμελητής έκδοσης), Kumar, Mukul (Επιμελητής έκδοσης), Adams, Brent L. (Επιμελητής έκδοσης), Field, David P. (Επιμελητής έκδοσης)
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston, MA : Springer US, 2009.
• Θέματα: Materials science.; Geophysics.; Condensed matter.; Materials Science.; Characterization and Evaluation of Materials.; Materials Science, general.; Condensed Matter Physics.; Geophysics/Geodesy.

Electron backscatter diffraction (EBSD), when employed as an additional characterization technique to a scanning electron microscope (SEM), enables individual grain orientations, local texture, point-to-point orientation correlations, and phase identification and distributions to be determined routi...