Tan, C. M., Li, W., Gan, Z., & Hou, Y. (2011). Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (1.). Springer London.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Tan, Cher Ming, Wei Li, Zhenghao Gan, και Yuejin Hou. Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections. 1. London: Springer London, 2011.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Tan, Cher Ming, et al. Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections. 1. Springer London, 2011.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.