SpringerLink (Online service) & Gusev, E. (2006). Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer Netherlands.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)SpringerLink (Online service) και Evgeni Gusev. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Dordrecht: Springer Netherlands, 2006.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)SpringerLink (Online service) και Evgeni Gusev. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer Netherlands, 2006.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.