Microscopy of Semiconducting Materials 2007

The fifteenth international conference on Microscopy of Semiconducting Materials took place in Cambridge, UK on 2-5 April 2007. It was organised by the Institute of Physics, with co-sponsorship by the Royal Microscopical Society and endorsement by the Materials Research Society. The conference focus...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Cullis, A. G. (Επιμελητής έκδοσης), Midgley, P. A. (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Dordrecht : Springer Netherlands, 2008.
Σειρά:Springer Proceedings in Physics, 120
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Πίνακας περιεχομένων:
  • Wide Band-Gap Nitrides
  • General Heteroepitaxial Layers
  • High Resolution Microscopy and Nanoanalysis
  • Self-Organised and Quantum Domain Structures
  • Processed Silicon and Other Device Materials
  • Device and Doping Studies
  • FIB, SEM and SPM Advances.