Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Liu, J., Salmela, O., Sarkka, J., Morris, J. E., Tegehall, P., & Andersson, C. (2011). Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems (1.). Springer New York.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Liu, Johan, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, και Cristina Andersson. Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems. 1. New York, NY: Springer New York, 2011.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Liu, Johan, et al. Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems. 1. Springer New York, 2011.