Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
• Άλλοι συγγραφείς: Singhee, Amith (Επιμελητής έκδοσης), Rutenbar, Rob A. (Επιμελητής έκδοσης)
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston, MA : Springer US : Imprint: Springer, 2010.
• Έκδοση: 1.
• Σειρά: Integrated Circuits and Systems,
• Θέματα: Engineering.; Electronics.; Microelectronics.; Electronic circuits.; Circuits and Systems.; Electronics and Microelectronics, Instrumentation.

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design brings together some of the world’s leading experts in statistical EDA, memory design, device variability modeling and reliability modeling, to compile theoretical and practical results in one complete reference on statistical techniques for extreme stat...