Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design brings together some of the world’s leading experts in statistical EDA, memory design, device variability modeling and reliability modeling, to compile theoretical and practical results in one complete reference on statistical techniques for extreme stat...
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Singhee, Amith (Επιμελητής έκδοσης), Rutenbar, Rob A. (Επιμελητής έκδοσης) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston, MA :
Springer US : Imprint: Springer,
2010.
|
Έκδοση: | 1. |
Σειρά: | Integrated Circuits and Systems,
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
ανά: Singhee, Amith
Έκδοση: (2010) -
High-Bandwidth Memory Interface
ανά: Kim, Chulwoo, κ.ά.
Έκδοση: (2014) -
Design Exploration of Emerging Nano-scale Non-volatile Memory
ανά: Yu, Hao, κ.ά.
Έκδοση: (2014) -
Managing Temperature Effects in Nanoscale Adaptive Systems
ανά: Wolpert, David, κ.ά.
Έκδοση: (2012) -
Emerging Memory Technologies Design, Architecture, and Applications /
Έκδοση: (2014)