Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis /
Scanning transmission electron microscopy has become a mainstream technique for imaging and analysis at atomic resolution and sensitivity, and the editors of this book are widely credited with bringing the field to its present popularity. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analys...
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Pennycook, Stephen J. (Επιμελητής έκδοσης), Nellist, Peter D. (Επιμελητής έκδοσης) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York, NY :
Springer New York : Imprint: Springer,
2011.
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
The Materials Science of Semiconductors
ανά: Rockett, Angus
Έκδοση: (2008) -
One-Dimensional Nanostructures
Έκδοση: (2008) -
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation /
ανά: Lundstrom, Mark S., κ.ά.
Έκδοση: (2006) -
Science of Microscopy
Έκδοση: (2007) -
Strain Effect in Semiconductors Theory and Device Applications /
ανά: Sun, Yongke, κ.ά.
Έκδοση: (2010)