Nanoscale Memory Repair

Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. As a result, repair techniques have been indispensable for nano-scale memories. Without these techniques, even modern MPUs/...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Horiguchi, Masashi (Συγγραφέας), Itoh, Kiyoo (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2011.
Σειρά:Integrated Circuits and Systems,
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια