Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Bhushan, M., & Ketchen, M. B. (2011). Microelectronic Test Structures for CMOS Technology. Springer New York : Imprint: Springer.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Bhushan, Manjul, και Mark B. Ketchen. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology. New York, NY: Springer New York : Imprint: Springer, 2011.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Bhushan, Manjul, και Mark B. Ketchen. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology. Springer New York : Imprint: Springer, 2011.