Boyd, S. B. (2012). Life-Cycle Assessment of Semiconductors. Springer New York : Imprint: Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Boyd, Sarah B. Life-Cycle Assessment of Semiconductors. New York, NY: Springer New York : Imprint: Springer, 2012.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Boyd, Sarah B. Life-Cycle Assessment of Semiconductors. Springer New York : Imprint: Springer, 2012.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.