Life-Cycle Assessment of Semiconductors

Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices. A lack of reliable semiconductor LCA data has been a major challenge to evaluation of the potential environmental benefits of information te...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Boyd, Sarah B. (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2012.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Πίνακας περιεχομένων:
  • 1 Introduction
  • 2 Semiconductor LCI Methods
  • 3 Semiconductor Manufacturing Trends in Product Type and Geography
  • 4 Life-cycle Energy and Global Warming Emissions of CMOS Logic
  • 5 Life-cycle Assessment of CMOS Logic
  • 6 Life-cycle Assessment of Flash Memory
  • 7 Life-cycle Assessment of Dynamic Random Access Memory
  • 8 Semiconductor LCA: The Road Ahead.