Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design explains many of the technical mysteries behind the Predictive Technology Model (PTM) that has been adopted worldwide in explorative design research. Through physical derivation and technology extrapolation, PTM is the de-factor device mod...
Κύριος συγγραφέας: | Cao, Yu (Συγγραφέας) |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston, MA :
Springer US,
2011.
|
Σειρά: | Integrated Circuits and Systems,
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Fault-Tolerant Design
ανά: Dubrova, Elena
Έκδοση: (2013) -
Robust SRAM Designs and Analysis
ανά: Singh, Jawar, κ.ά.
Έκδοση: (2013) -
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
Έκδοση: (2006) -
Software-Implemented Hardware Fault Tolerance
ανά: Goloubeva, Olga, κ.ά.
Έκδοση: (2006) -
VLSI 2010 Annual Symposium Selected papers /
Έκδοση: (2011)