Shen, R., Tan, S. X., & Yu, H. (2012). Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs. Springer US.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Shen, Ruijing, Sheldon X.-D Tan, και Hao Yu. Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs. Boston, MA: Springer US, 2012.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Shen, Ruijing, et al. Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs. Springer US, 2012.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.