Abu-Rahma, M. H., & Anis, M. (2013). Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield. Springer New York : Imprint: Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Abu-Rahma, Mohamed H., και Mohab Anis. Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield. New York, NY: Springer New York : Imprint: Springer, 2013.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Abu-Rahma, Mohamed H., και Mohab Anis. Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield. Springer New York : Imprint: Springer, 2013.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.