Atom Probe Microscopy
Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the development of wide-field-of-view detectors and puls...
Κύριοι συγγραφείς: | Gault, Baptiste (Συγγραφέας), Moody, Michael P. (Συγγραφέας), Cairney, Julie M. (Συγγραφέας), Ringer, Simon P. (Συγγραφέας) |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York, NY :
Springer New York : Imprint: Springer,
2012.
|
Σειρά: | Springer Series in Materials Science,
160 |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Local Electrode Atom Probe Tomography A User's Guide /
ανά: Larson, David J., κ.ά.
Έκδοση: (2013) -
Helium Ion Microscopy Principles and Applications /
ανά: Joy, David C.
Έκδοση: (2013) -
Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
Έκδοση: (2012) -
Electron Nano-Imaging Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM /
ανά: Tanaka, Nobuo
Έκδοση: (2017) -
Controlled Atmosphere Transmission Electron Microscopy Principles and Practice /
Έκδοση: (2016)