Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Joy, D. C. (2013). Helium Ion Microscopy: Principles and Applications. Springer New York : Imprint: Springer.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Joy, David C. Helium Ion Microscopy: Principles and Applications. New York, NY: Springer New York : Imprint: Springer, 2013.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Joy, David C. Helium Ion Microscopy: Principles and Applications. Springer New York : Imprint: Springer, 2013.