Local Electrode Atom Probe Tomography A User's Guide /
This book is the first, single-source guide to successful experiments using the local electrode atom probe (LEAP®) microscope. Coverage is both comprehensive and user friendly, including the fundamentals of preparing specimens for the microscope from a variety of materials, the details of the instru...
Κύριοι συγγραφείς: | Larson, David J. (Συγγραφέας), Prosa, Ty J. (Συγγραφέας), Ulfig, Robert M. (Συγγραφέας), Geiser, Brian P. (Συγγραφέας), Kelly, Thomas F. (Συγγραφέας) |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York, NY :
Springer New York : Imprint: Springer,
2013.
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Atom Probe Microscopy
ανά: Gault, Baptiste, κ.ά.
Έκδοση: (2012) -
Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
Έκδοση: (2012) -
Electron Nano-Imaging Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM /
ανά: Tanaka, Nobuo
Έκδοση: (2017) -
Helium Ion Microscopy Principles and Applications /
ανά: Joy, David C.
Έκδοση: (2013) -
Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 3 /
Έκδοση: (2015)