System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems

New manufacturing technologies have made possible the integration of entire systems on a single chip. This new design paradigm, termed system-on-chip (SOC), together with its associated manufacturing problems, represents a real challenge for designers. As well as giving rise to new design practices,...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Sonza Reorda, Matteo (Επιμελητής έκδοσης), Peng, Zebo (Επιμελητής έκδοσης), Violante, Massimo (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: London : Springer London, 2005.
Σειρά:Springer Series in Advanced Microelectronics, 17
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Πίνακας περιεχομένων:
  • Modeling Permanent Faults
  • Test Generation: A Symbolic Approach
  • Test Generation: A Heuristic Approach
  • Test Generation: A Hierarchical Approach
  • Test Program Generation from High-level Microprocessor Descriptions
  • Tackling Concurrency and Timing Problems
  • An Approach to System-level Design for Test
  • System-level Dependability Analysis.