Voigtländer, B., & Voigtländer, B. (2019). Atomic Force Microscopy (2nd ed. 2019.). Springer International Publishing : Imprint: Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Voigtländer, Bert, και Bert Voigtländer. Atomic Force Microscopy. 2nd ed. 2019. Cham: Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Voigtländer, Bert, και Bert Voigtländer. Atomic Force Microscopy. 2nd ed. 2019. Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.