Nanoelectronic Coupled Problems Solutions

Designs in nanoelectronics often lead to challenging simulation problems and include strong feedback couplings. Industry demands provisions for variability in order to guarantee quality and yield. It also requires the incorporation of higher abstraction levels to allow for system simulation in order...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: ter Maten, E. Jan W. (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Brachtendorf, Hans-Georg (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Pulch, Roland (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Schoenmaker, Wim (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), De Gersem, Herbert (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2019.
Έκδοση:1st ed. 2019.
Σειρά:The European Consortium for Mathematics in Industry ; 29
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Πίνακας περιεχομένων:
  • Equations, discretizations
  • Time integration for coupled problems
  • Uncertainty quantification
  • Model order reduction
  • Robustness, reliability, ageing
  • Testcases and measurements.