Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Liu, X., & Xu, Q. (2014). Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits. Springer International Publishing : Imprint: Springer.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Liu, Xiao, και Qiang Xu. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits. Heidelberg: Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2014.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Liu, Xiao, και Qiang Xu. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits. Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2014.