The Boundary-Scan Handbook
Aimed at electronics industry professionals, this 4th edition of the Boundary Scan Handbook describes recent changes to the IEEE1149.1 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. This updated edition features new chapters on the possible effects of the changes on the work of the practi...
| Κύριος συγγραφέας: | Parker, Kenneth P. (Συγγραφέας) |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Cham :
Springer International Publishing : Imprint: Springer,
2016.
|
| Έκδοση: | 4th ed. 2016. |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
ανά: Liu, Xiao, κ.ά.
Έκδοση: (2014) -
Exploring Memory Hierarchy Design with Emerging Memory Technologies
ανά: Sun, Guangyu
Έκδοση: (2014) -
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
ανά: Noia, Brandon, κ.ά.
Έκδοση: (2014) -
Formal Specification Level Concepts, Methods, and Algorithms /
ανά: Soeken, Mathias, κ.ά.
Έκδοση: (2015) -
Model-Driven Design Using IEC 61499 A Synchronous Approach for Embedded and Automation Systems /
ανά: Yoong, Li Hsien, κ.ά.
Έκδοση: (2015)