Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated d...
Κύριοι συγγραφείς: | Dehbashi, Mehdi (Συγγραφέας), Fey, Görschwin (Συγγραφέας) |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Cham :
Springer International Publishing : Imprint: Springer,
2015.
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
The Dark Side of Silicon Energy Efficient Computing in the Dark Silicon Era /
Έκδοση: (2017) -
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
ανά: Liu, Xiao, κ.ά.
Έκδοση: (2014) -
Post-Silicon Validation and Debug
Έκδοση: (2019) -
Fundamentals of IP and SoC Security Design, Verification, and Debug /
Έκδοση: (2017) -
Debugging at the Electronic System Level
ανά: Rogin, Frank, κ.ά.
Έκδοση: (2010)