Samedi, V. G., & Bocklage, T. (2016). Pitfalls in Diagnostic Cytopathology With Key Differentiating Cytologic Features. Springer International Publishing : Imprint: Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Samedi, Von G., και Thèrése Bocklage. Pitfalls in Diagnostic Cytopathology With Key Differentiating Cytologic Features. Cham: Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2016.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Samedi, Von G., και Thèrése Bocklage. Pitfalls in Diagnostic Cytopathology With Key Differentiating Cytologic Features. Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2016.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.