Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings /

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018. The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They wer...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Bai, Xiao (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Hancock, Edwin R. (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Ho, Tin Kam (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Wilson, Richard C. (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Biggio, Battista (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Robles-Kelly, Antonio (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2018.
Έκδοση:1st ed. 2018.
Σειρά:Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics ; 11004
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια