Reimer, L., & Reimer, L. (1998). Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (2nd ed. 1998.). Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-540-38967-5
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Reimer, Ludwig, και Ludwig Reimer. Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. 2nd ed. 1998. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 1998. https://doi.org/10.1007/978-3-540-38967-5.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Reimer, Ludwig, και Ludwig Reimer. Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. 2nd ed. 1998. Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 1998. https://doi.org/10.1007/978-3-540-38967-5.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.