Synthetic Polymeric Membranes Characterization by Atomic Force Microscopy /

Tis book concentrates on atomic force microscopy (AFM), a method recently - veloped to study the surfaces of synthetic polymeric membranes. AFM is becoming a very important tool for the characterization of synthetic polymeric membranes. Te development of membranes of improved performance depends on...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Khulbe, K. C. (Συγγραφέας), Feng, C. Y. (Συγγραφέας), Matsuura, Takeshi (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008.
Σειρά:Springer Laboratory
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια