Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Bhushan, Bharat (Συγγραφέας), Fuchs, Harald (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
Σειρά:NanoScience and Technology,
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
LEADER 02577nam a22005775i 4500
001 978-3-540-85037-3
003 DE-He213
005 20151204153436.0
007 cr nn 008mamaa
008 100301s2009 gw | s |||| 0|eng d
020 |a 9783540850373  |9 978-3-540-85037-3 
024 7 |a 10.1007/978-3-540-85037-3  |2 doi 
040 |d GrThAP 
050 4 |a T174.7 
072 7 |a TDPB  |2 bicssc 
072 7 |a TEC027000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 620.5  |2 23 
100 1 |a Bhushan, Bharat.  |e author. 
245 1 0 |a Applied Scanning Probe Methods XI  |h [electronic resource] :  |b Scanning Probe Microscopy Techniques /  |c by Bharat Bhushan, Harald Fuchs. 
264 1 |a Berlin, Heidelberg :  |b Springer Berlin Heidelberg,  |c 2009. 
300 |a LVI, 236 p. 113 illus., 22 illus. in color.  |b online resource. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
347 |a text file  |b PDF  |2 rda 
490 1 |a NanoScience and Technology,  |x 1434-4904 
505 0 |a Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors -- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation -- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies -- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science -- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements -- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip -- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations -- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction. 
650 0 |a Engineering. 
650 0 |a Polymers. 
650 0 |a Surfaces (Physics). 
650 0 |a Interfaces (Physical sciences). 
650 0 |a Thin films. 
650 0 |a Spectroscopy. 
650 0 |a Microscopy. 
650 0 |a Nanotechnology. 
650 0 |a Materials  |x Surfaces. 
650 1 4 |a Engineering. 
650 2 4 |a Nanotechnology and Microengineering. 
650 2 4 |a Spectroscopy and Microscopy. 
650 2 4 |a Surface and Interface Science, Thin Films. 
650 2 4 |a Nanotechnology. 
650 2 4 |a Surfaces and Interfaces, Thin Films. 
650 2 4 |a Polymer Sciences. 
700 1 |a Fuchs, Harald.  |e author. 
710 2 |a SpringerLink (Online service) 
773 0 |t Springer eBooks 
776 0 8 |i Printed edition:  |z 9783540850366 
830 0 |a NanoScience and Technology,  |x 1434-4904 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3  |z Full Text via HEAL-Link 
912 |a ZDB-2-CMS 
950 |a Chemistry and Materials Science (Springer-11644)