Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Samukawa, S. (2014). Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System. Springer Japan : Imprint: Springer.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Samukawa, Seiji. Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System. Tokyo: Springer Japan : Imprint: Springer, 2014.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Samukawa, Seiji. Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System. Springer Japan : Imprint: Springer, 2014.