Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines

After producing a chip, the functional correctness of the integrated circuit has to be checked. Otherwise products with malfunctions would be delivered to customers, which is not acceptable for any company. Many algorithms for "Automatic Test Pattern Generation" (ATPG) have been proposed i...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Drechsler, Rolf (Συγγραφέας), Eggersglüβ, Stephan (Συγγραφέας), Fey, Görschwin (Συγγραφέας), Tille, Daniel (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Dordrecht : Springer Netherlands, 2009.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Πίνακας περιεχομένων:
  • Preliminaries
  • Boolean Satisfiability
  • SAT-Based ATPG
  • Learning Techniques
  • Multiple-Valued Logic
  • Improved Circuit-to-CNF Conversion
  • Branching Strategies
  • Integration into Industrial Flow
  • Delay Faults
  • Summary and Outlook.