Krishnaswamy, S., Markov, I. L., & Hayes, J. P. (2013). Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty. Springer Netherlands : Imprint: Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Krishnaswamy, Smita, Igor L. Markov, και John P. Hayes. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty. Dordrecht: Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2013.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Krishnaswamy, Smita, et al. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty. Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2013.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.