Dinh, T., Nguyen, N., & Dao, D. V. (2018). Thermoelectrical Effect in SiC for High-Temperature MEMS Sensors (1st ed. 2018.). Springer Singapore : Imprint: Springer. https://doi.org/10.1007/978-981-13-2571-7
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Dinh, Toan, Nam-Trung Nguyen, και Dzung Viet Dao. Thermoelectrical Effect in SiC for High-Temperature MEMS Sensors. 1st ed. 2018. Singapore: Springer Singapore : Imprint: Springer, 2018. https://doi.org/10.1007/978-981-13-2571-7.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Dinh, Toan, et al. Thermoelectrical Effect in SiC for High-Temperature MEMS Sensors. 1st ed. 2018. Springer Singapore : Imprint: Springer, 2018. https://doi.org/10.1007/978-981-13-2571-7.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.