Περίληψη: | Στο έκτο κεφάλαιο παρουσιάζεται η μέθοδος της Φασματοσκοπίας Φθορισμού Ακτίνων Χ (X-Ray Fluorescence, XRF). Αρχικά παρουσιάζεται μία ανασκόπηση των βασικών αρχών της μεθόδου και γίνεται ανάλυση του μηχανισμού φθορισμού ακτίνων Χ και των ανακτώμενων φασμάτων ακτίνων Χ. Στη συνέχεια ακολουθεί μία περιγραφή των τυπικών διατάξεων και της οργανολογίας των φασματοφωτόμετρων Ακτίνων Χ. Τέλος η πειραματική διάταξη και η ανάκτηση πληροφοριών της φασματοσκοπίας XRF παρουσιάζεται σε μία σειρά εφαρμογών για την ποιοτική και ποσοτική στοιχειακή ανάλυση διαφόρων υλικών, όπως δομικών υλικών, μεταλλικών υλικών και καρμάτων, ορυκτών, κεραμικών, χρωστικών υλών, κ.ά.
|