Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου

Στην παρούσα διπλωματική κατασκευάστηκε και μελετήθηκε OFET πεντακενίου (Pn). Ως υπόστρωμα επιλέχθηκε το οξείδιο του πυριτίου (SiO2) και ως διηλεκτρικό του τρανζίστορ εναποτέθηκε επάνω στο SiO2 με τη μέθοδο επίστρωσης δια περιστροφής το πολυ-μεθακρυλικό μεθύλιο (PMMA ή Plexiglass) λόγω της υψηλή ει...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Καλεμάι, Γιον
Άλλοι συγγραφείς: Kalemai, Gion
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: 2020
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://hdl.handle.net/10889/14017
id nemertes-10889-14017
record_format dspace
spelling nemertes-10889-140172022-09-05T05:37:42Z Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου Study on the capabilities of pentacene transistors Καλεμάι, Γιον Kalemai, Gion Τρανζίστορ πεντακενίου Πολυμεθακρυλικό μεθύλιο (Πλεξιγκλάς) Λέισερ HeNe Χωρική κατανομή καταστάσεων παγίδευσης Pentacene transistor PMMA HeNe laser Spacial trap state Στην παρούσα διπλωματική κατασκευάστηκε και μελετήθηκε OFET πεντακενίου (Pn). Ως υπόστρωμα επιλέχθηκε το οξείδιο του πυριτίου (SiO2) και ως διηλεκτρικό του τρανζίστορ εναποτέθηκε επάνω στο SiO2 με τη μέθοδο επίστρωσης δια περιστροφής το πολυ-μεθακρυλικό μεθύλιο (PMMA ή Plexiglass) λόγω της υψηλή ειδική αντίσταση (> 2 × 10^15 Ω cm) και η χαμηλή διηλεκτρική σταθερά (περίπου 3, παρόμοια με εκείνη του διοξειδίου του πυριτίου). Κατόπιν ένα στρώμα το πεντακένιου πάχους 200 nm εναποτέθηκε με τη μέθοδο της θερμικής εξάχνωσης. Το μετρητικό όργανο που χρησιμοποιήθηκε για την ταυτόχρονη παρακολούθηση και καταγραφή των ηλεκτρονικών επιδόσεων του τρανζίστορ (V_ds, V_gs,I_ds,I_G), ήταν το Keithley 2612A. Αυτό επιτεύχθηκε μέσω προγράμματος σε TSB (test script builder), η γλώσσα επικοινωνίας με το Keithley. Μελετήθηκαν οι βέλτιστες παράμετροι για την διεξαγωγή των μετρήσεων (χρόνος καθυστέρησης μέτρησης, βήμα τάσης). Εξήχθησαν οι χαρακτηριστικές καμπύλες I-V του δείγματος εμφανίζοντας μηδαμινή υστέρηση, χαμηλό ρεύμα διαρροής και μικρή τάση ενεργοποίησης (τάση κατωφλίου). Επειτα με την μέθοδο του χωρικά διαμορφωμένου φωτορεύματος (χρήση laser HeNe 633 nm), μελετήθηκε το παραγόμενο φάσμα του ρεύματος του αγώγιμου καναλιού. Eξετάστηκε η επίδραση των εφαρμοζόμενων τάσεων πύλης-πυγής και πηγής-συλλέκτη (V_ds, V_gs), τον χρόνο, και την συχνότητα διαμόρφωσης της προσπίπτουσας δέσμης φωτός. Τα συμπεράσματα ερμηνεύουν, το πώς τα αποτελέσματα των μετρήσεων συνεισφέρουν ή δυσχεραίνουν τους μηχανισμούς παραγωγής εξιτονίων και την αλληλεπίδρασή τους με τους παγιδευμένους φορείς αγωγιμότητας (οπές). In this thesis, a pentacene (Pn) OFET was prepared and measured. Silicon oxide (SiO2) was chosen as the substrate and methyl polymethacrylate (PMMA or Plexiglass) was deposited by spin coating on the SiO2 as the transistor dielectric, due to its high relative permittivity (> 2 × 10^15 Ω cm) and low dielectric constant (approximately 3, that of silicon dioxide). Subsequently, the pentacene layer 200 nm in thickness was deposited on the PMMA by thermal evaporation. The measuring instrument used to simultaneously monitor and record the electronic performance of the transistor (V_ds, V_gs,I_ds,I_G) was the Keithley 2612A. This was achieved through a program using TSB (test script builder), the language of communication with Keithley. The optimum parameters for the measurements were studied (measurement delay time, voltage step). The characteristic I-V curves of the sample were extracted showing minimal hysteresis, low leakage current and low activation voltage (threshold voltage). Thereafter, with the spatially photocurrent modulation method (using HeNe laser 633 nm), the produced spectrum of the conductive channel current was studied. This was examined in terms of the influence of the applied gate-source voltage and source-drain voltage (V_ds, V_gs), the time under those bias conditions and the modulation frequency of the laser light beam. The conclusions explain how the results of the measurements contribute to or complicate the mechanisms of exciton production and their interaction with trapped holes. 2020-10-21T09:48:24Z 2020-10-21T09:48:24Z 2020-02-22 http://hdl.handle.net/10889/14017 gr application/pdf
institution UPatras
collection Nemertes
language Greek
topic Τρανζίστορ πεντακενίου
Πολυμεθακρυλικό μεθύλιο (Πλεξιγκλάς)
Λέισερ HeNe
Χωρική κατανομή καταστάσεων παγίδευσης
Pentacene transistor
PMMA
HeNe laser
Spacial trap state
spellingShingle Τρανζίστορ πεντακενίου
Πολυμεθακρυλικό μεθύλιο (Πλεξιγκλάς)
Λέισερ HeNe
Χωρική κατανομή καταστάσεων παγίδευσης
Pentacene transistor
PMMA
HeNe laser
Spacial trap state
Καλεμάι, Γιον
Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου
description Στην παρούσα διπλωματική κατασκευάστηκε και μελετήθηκε OFET πεντακενίου (Pn). Ως υπόστρωμα επιλέχθηκε το οξείδιο του πυριτίου (SiO2) και ως διηλεκτρικό του τρανζίστορ εναποτέθηκε επάνω στο SiO2 με τη μέθοδο επίστρωσης δια περιστροφής το πολυ-μεθακρυλικό μεθύλιο (PMMA ή Plexiglass) λόγω της υψηλή ειδική αντίσταση (> 2 × 10^15 Ω cm) και η χαμηλή διηλεκτρική σταθερά (περίπου 3, παρόμοια με εκείνη του διοξειδίου του πυριτίου). Κατόπιν ένα στρώμα το πεντακένιου πάχους 200 nm εναποτέθηκε με τη μέθοδο της θερμικής εξάχνωσης. Το μετρητικό όργανο που χρησιμοποιήθηκε για την ταυτόχρονη παρακολούθηση και καταγραφή των ηλεκτρονικών επιδόσεων του τρανζίστορ (V_ds, V_gs,I_ds,I_G), ήταν το Keithley 2612A. Αυτό επιτεύχθηκε μέσω προγράμματος σε TSB (test script builder), η γλώσσα επικοινωνίας με το Keithley. Μελετήθηκαν οι βέλτιστες παράμετροι για την διεξαγωγή των μετρήσεων (χρόνος καθυστέρησης μέτρησης, βήμα τάσης). Εξήχθησαν οι χαρακτηριστικές καμπύλες I-V του δείγματος εμφανίζοντας μηδαμινή υστέρηση, χαμηλό ρεύμα διαρροής και μικρή τάση ενεργοποίησης (τάση κατωφλίου). Επειτα με την μέθοδο του χωρικά διαμορφωμένου φωτορεύματος (χρήση laser HeNe 633 nm), μελετήθηκε το παραγόμενο φάσμα του ρεύματος του αγώγιμου καναλιού. Eξετάστηκε η επίδραση των εφαρμοζόμενων τάσεων πύλης-πυγής και πηγής-συλλέκτη (V_ds, V_gs), τον χρόνο, και την συχνότητα διαμόρφωσης της προσπίπτουσας δέσμης φωτός. Τα συμπεράσματα ερμηνεύουν, το πώς τα αποτελέσματα των μετρήσεων συνεισφέρουν ή δυσχεραίνουν τους μηχανισμούς παραγωγής εξιτονίων και την αλληλεπίδρασή τους με τους παγιδευμένους φορείς αγωγιμότητας (οπές).
author2 Kalemai, Gion
author_facet Kalemai, Gion
Καλεμάι, Γιον
author Καλεμάι, Γιον
author_sort Καλεμάι, Γιον
title Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου
title_short Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου
title_full Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου
title_fullStr Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου
title_full_unstemmed Μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου
title_sort μελέτη οπτοηλεκτρονικών δυνατοτήτων τρανζίστορ πεντακενίου
publishDate 2020
url http://hdl.handle.net/10889/14017
work_keys_str_mv AT kalemaigion meletēoptoēlektronikōndynatotētōntranzistorpentakeniou
AT kalemaigion studyonthecapabilitiesofpentacenetransistors
_version_ 1771297157076221952