Μελέτη χρήσης διηλεκτρικών υλικών για τη βελτιστοποίηση των απεικονιστικών ιδιοτήτων της εστιασμένης μικροκυματικής ραδιομετρίας

• Κύριος συγγραφέας: Τριχόπουλος, Γεώργιος
• Άλλοι συγγραφείς: Ουζούνογλου, Νικόλαος
• Μορφή: Thesis
• Γλώσσα: Greek
• Έκδοση: 2009
• Θέματα: Μικροκυματική ραδιομετρία; Διηλεκτρικά υλικά; Λογισμικό HFSS; Microwave radiometry; High Frequency Structure Simulation (HFSS); MiRaIS; 612.014 480 287

Στην παρούσα εργασία γίνεται μελέτη της χρήσης διηλεκτρικών υλικών για τη βελτίωση των απεικονιστικών ιδιοτήτων της εστιασμένης μικροκυματικής ραδιομετρίας, όπωςείναι η χωρική διακριτική ικανότητα και το βάθος διείσδυσης της ακτινοβολίας. Με τη βοήθεια του λογισμικού HFSS (High Frequency Structure Simulation) το οποίο βασίζεται στη μέθοδο των πεπερασμένων στοιχείων, μελετώνται διάφορες υλοποιήσεις με τη χρήση των διηλεκτρικών. Τοποθετούνται διηλεκτρικά στρώματα βηματικού δείκτη διάθλασης γύρω από το κεφάλι και διηλεκτρικά στρώματα γύρω από την κεραία. Επίσης σε μια άλλη προσέγγιση του προβλήματος, το κεφάλι τοποθετείται σε ομοιογενή σφαίρα διηλεκτρικού ώστε να επιτευχθεί ευκολότερη και πιο αξιόπιστη εστίαση. Τέλος εξετάζεται η περίπτωση λειτουργίας του MiRaIS με τη χρήση κατευθυντήριας κεραίας τεχνολογίας microstrip, αντί για παγκατευθυντικό δίπολο. Σε κάθε προσέγγιση αξιολογούνται και συγκρίνονται τα αριθμητικά αποτελέσματα όλων των συχνοτήτων που δοκιμάζονται (500MHz-2GHz).