Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων

• Κύριος συγγραφέας: Παπαδημητρίου, Αθανασία
• Άλλοι συγγραφείς: Νικολός, Δημήτριος
• Μορφή: Thesis
• Γλώσσα: Greek
• Έκδοση: 2009
• Θέματα: Πολυφασική αρχιτεκτονική; Εμφώλευση συνόλου δοκιμής; Αλγόριθμος ανατροφοδότησης; Multiphase architecture; Test set embedding; Reseeding algorithm; RESPIN; 621.392

Η συνεχής μείωση των διαστάσεων των ψηφιακών κυκλωμάτων σε συνδυασμό με την ολοένα αυξανόμενη πολυπλοκότητά τους, έχει οδηγήσει στην απαίτηση για αξιοπιστία και συνεπώς στην εφαρμογή τεχνικών ελέγχου για την εξασφάλιση της ορθής λειτουργίας τους. Οι βασικοί τρόποι εφαρμογής του ελέγχου σε ένα κύκλωμα μετά την κατασκευή του και την τοποθέτησή του στη συσκευασία είναι ο εξωτερικός (off-chip – εξολοκλήρου χρήση εξωτερικού ελεγκτή ATE), ο BIST (Built-In Self Test – μηδενική χρήση ATE) και ο ενσωματωμένος (embedded – συνδυασμός χρήσης ATE με ενσωματωμένες δομές ελέγχου). Η συγκεκριμένη διπλωματική εργασία επικεντρώνεται στη χρήση του ενσωματωμένου ελέγχου και συγκεκριμένα σε μια κατηγορία αυτού που ονομάζεται εμφώλευση συνόλου δοκιμής (test set embedding) στην οποία το σύνολο δοκιμής ενσωματώνεται σε μια μεγαλύτερη ακολουθία καταστάσεων ενός κυκλώματος παραγωγής διανυσμάτων δοκιμής. Σε αυτή τη διπλωματική εργασία προτείνεται μια νέα μέθοδος για ενσωματωμένο έλεγχο που κάνει χρήση της ανατροφοδότησης (reseeding) για έλεγχο με χρήση ολισθητή γραμμικής ανάδρασης (LFSR). Η μέθοδος αυτή χρησιμοποιείται είτε σε απλές αρχιτεκτονικές ελέγχου με LFSR, είτε σε πολυφασικές αρχιτεκτονικές, πάντα για κυκλώματα με πολλαπλές αλυσίδες. Στην πολυφασική αρχιτεκτονική εκμεταλλευόμαστε τις ακολουθίες από bits που εξάγονται από διάφορες βαθμίδες ενός LFSR, το οποίο χρησιμοποιείται για την παραγωγή διανυσμάτων δοκιμής, για να κωδικοποιήσουμε το σετ ελέγχου της υπό δοκιμή λειτουργικής μονάδας. Παρουσιάζεται ένας νέος αλγόριθμος, ο οποίος περιλαμβάνει τέσσερα κριτήρια για την αποδοτική επιλογή νέων αρχικών καταστάσεων και των βαθμίδων του LFSR. Τέλος παρουσιάζεται και μια μεθοδολογία μείωσης του μήκους της παραγόμενης ακολουθίας δοκιμής. Στη συνέχεια και για να συγκρίνουμε τα αποτελέσματα που εξάγονται από την παραπάνω μέθοδο υλοποιήθηκε μια νέα τεχνική που έχει προταθεί πρόσφατα στη βιβλιογραφία. Η μέθοδος αυτή καλείται REusing Scan chains for test Pattern decompressIoN (RESPIN) και έχει κύριο χαρακτηριστικό την εμφώλευση του συνόλου δοκιμής. Σύμφωνα με τη μέθοδο αυτή η αποσυμπίεση των διανυσμάτων που ελέγχουν μια λειτουργική μονάδα γίνεται με τη χρήση αλυσίδων ελέγχου μιας δεύτερης λειτουργικής μονάδας που βρίσκεται μέσα στο chip και που τη στιγμή του ελέγχου είναι σε αδρανή κατάσταση. Έπειτα από εκτενή σύγκριση των δυο προαναφερθέντων τεχνικών καθώς και άλλων τεχνικών που αναφέρονται στη βιβλιογραφία καταλήξαμε στο συμπέρασμα ότι ο συνδυασμός του αλγόριθμου επιλογής νέων αρχικών καταστάσεων ενός LFSR με την τεχνική μείωσης των ακολουθιών ελέγχου αποτελεί ελκυστική λύση και παρέχει καλύτερα αποτελέσματα τόσο ως προς το πλήθος των δεδομένων που αποθηκεύονται στο ΑΤΕ, όσο και ως προς το μήκος των ακολουθιών δοκιμής.