Μοντελοποίηση και πειραματική εξομοίωση του μηχανισμού γήρανσης μνημών τεχνολογίας NAND

Η συμπεριφορά των NAND Flash μνημών, της πιο επιτυχημένης τε- χνολογίας Non-Volatile μνημών σήμερα, αλλοιώνεται με την αύξηση των εγγραφών. Αυτή η διαδικασία, που ονομάζεται γήρανση, πέρα από μη ανα- στρέψιμη είναι και πολύ σημαντική για τον σχεδιασμό συστημάτων που χρησιμοποιούν NAND Flash μνήμ...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Σκλίας, Γεώργιος
Άλλοι συγγραφείς: Αντωνακόπουλος, Θεόδωρος
Μορφή: Thesis
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: 2015
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://hdl.handle.net/10889/8694
Περιγραφή
Περίληψη:Η συμπεριφορά των NAND Flash μνημών, της πιο επιτυχημένης τε- χνολογίας Non-Volatile μνημών σήμερα, αλλοιώνεται με την αύξηση των εγγραφών. Αυτή η διαδικασία, που ονομάζεται γήρανση, πέρα από μη ανα- στρέψιμη είναι και πολύ σημαντική για τον σχεδιασμό συστημάτων που χρησιμοποιούν NAND Flash μνήμες (π.χ. SSD), επειδή επηρεάζει την ΙΟ απόδοση και την αξιοπιστία του συστήματος. Τα πειράματα πάνω σε πραγ- ματικές NAND Flash μνήμες είναι χρονοβόρες και μη αναστρέψιμες δια- δικασίες, καθώς νέες εγγραφές στην μνήμη αυξάνουν την γήρανση και η συμπεριφορά του συστήματος αλλάζει. Σκοπός της παρούσας διπλωματικής εργασίας, είναι η ανάπτυξη ενός συστήματος που θα μπορεί να εξομοιώσει σε πραγματικό χρόνο και με με- γάλη ακρίβεια την συμπεριφορά NAND Flash μνημών με συνθήκες γή- ρανσης παραμετροποιημένες από τον χρήστη. Τα βασικά πλεονεκτήματα αυτής της προσέγγισης είναι τα ακόλουθα: η τεχνολογία που εξομοιώνεται μπορεί να χρησιμοποιηθεί υπό ίδιες συνθήκες γήρανσης για επαναληπτικά πειράματα και το ίδιο σύστημα μπορεί να χρησιμοποιηθεί για να συγκρίνει διαφορετικές τεχνολογίες μνημών υπό διαφορετικές συνθήκες γήρανσης χρησιμοποιώντας τις ίδιες ρυθμίσεις hardware.