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(2023). abbildende-ellipsometrie-mit-lichtwegumkehrung-fur-die-optische-charakterisierung-von-gekrummten-oberflachen.pdf. KIT Scientific Publishing.

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Abbildende-ellipsometrie-mit-lichtwegumkehrung-fur-die-optische-charakterisierung-von-gekrummten-oberflachen.pdf. KIT Scientific Publishing, 2023.

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